Tim Hardy

Rôles et responsabilités

Spécialiste des détecteurs d’images

Chef de l’équipe Électronique

Recherche et / ou projets en cours

Ses recherches actuelles portent sur les détecteurs pour l'imagerie astronomique dans le domaine visible et le proche infrarouge.

Énoncés de recherches / projets

  • Mise au point de l'électronique de lecture pour les réseaux de photodiodes à avalanche dans l'infrarouge
  • Caractérisation de capteurs d'images dans l'infrarouge
  • Électronique pour le contrôle du mouvement de précision

Études

Maîtrise en sciences de l’ingénieur, Université Simon-Fraser (1997)

Baccalauréat en sciences de l’ingénieur, Université Simon-Fraser (1994)

Principales publications

T. Hardy, E. Zhao, G. Burley, “High-speed array controller (HIAC) for multi-channel imaging detectors,” Proc. SPIE 12191,12191-69 (2022).

T. Hardy, E. Zhao, G. Burley, “Instrument development with infrared APD arrays,” Proc. SPIE 11454, 1145437 (2020).

T. Hardy, “Infrared APD characterization at NRC,” Proc. SPIE Vol. 9915 (2016).

T. Hardy, C. Willott, J. Pazder, “Intra-pixel response of the new JWST infrared detector arrays,” Proc. SPIE Vol. 9154 (2014).

T. Hardy, K. Hanna, K. Szeto, G. Burley, ”Deep-depletion Hamamatsu CCDs for the Gemini multi-object spectrograph,” Proc. SPIE Vol. 8453 (2012).

T. Hardy, M.J. Deen, and R. Murowinski “Effects of radiation damage on scientific charge coupled devices,” Advances in Imaging and Electron Physics, Vol. 106, P. Hawkes, Editor, Academic Press, pp 1-96 (1999).

T. Hardy, R. Murowinski and M.J. Deen, “Low frequency noise in proton damaged LDD MOSFETs,” IEEE Transactions on Electron Devices, vol. 46, pp 1339-1346 (1999).

T. Hardy, R. Murowinski and M.J. Deen, "Charge transfer efficiency in proton damaged CCDs," IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 45, pp 154-163 (1998).

Tim Hardy

Agent(e) de recherches senior
Herzberg, Astronomie et Astrophysique
5071, chemin West Saanich
Victoria, British Columbia V9E 2E7
Langue préférée : anglais
Téléphone : 250-448-2794

Expertise

Sciences, Ingénierie, Technologie, Microélectronique