Rôles et responsabilités
La caractérisation DC I-V, I-V pulsée, C-V et LCR et des paramètres S en RF ainsi que les calibrations et mesures RF de 1mHz à >50GHz avec les câbles coaxiaux et les guides d’ondes.
Caractérisation de la résistivité ohmique de contact, et la capacitance des matériaux.
Automatisation des instruments et des mesures avec LabVIEW, SCPI, SICL, GPIB, RS232, USB et LAN. Traitement automatisé des jeux de données avec LabVIEW et Origin.
Recherche et / ou projets en cours
Expérience avec la caractérisation des dispositifs semi-conducteurs électriques et opto-électriques tels que les transistors, diodes, détecteurs, lasers, condensateurs, inducteurs, les lignes de transmission et les batteries.
Expérience avec la caractérisation de transistors fait des matériaux suivants : GaN (HEMT), InP (HEMT, HBT, FET), SiGe (HBT), électronique imprimable, organiques et CNT.