| Nom | Mesurepro Inc. |
|---|---|
| Adresse | 106-86, boulevard des Entreprises Boisbriand (Québec) Canada J7G 2T3 |
| Personne-ressource | Karim Bouyahia, Président Téléphone : 514-913-0820 Télécopieur : 514-951-0675 Courriel : info@mesurepro.ca |
| Clients servis |
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| Domaine d'étalonnage |
|
| Organisme d'accréditation |
|
| ISO/IEC 17025 |
|
Ce Certificat CLAS est publié par le service CLAS du Conseil national de recherches du Canada (CNRC) en coopération avec le programme d'accréditation des laboratoires de l’organisme d’accréditation.
L'organisme d'accréditation reconnaît la capacité du laboratoire nommé à effectuer des étalonnages selon les aptitudes en matière de mesures et d'étalonnages et que ces étalonnages sont métrologiquement traçables au Système international d'unités (SI) ou à des étalons acceptés par le programme du CLAS.
Voir les notes supplémentaires.
Thermométrie
| Grandeur mesurée et son étendue ou instrument | Rendement métrologique d'étalonnage exprimé en terme d'incertitude (±) (Voir les notes supplémentaires) | Service de type | Remarques |
|---|---|---|---|
| Thermistor et Détecteur de température à résistance (RTD en anglais) | |||
| -196 ºC | 0,05 ºC | II | Pour l'étalonnage des chaînes de mesures de températures thermistor et détecteur de température à résistance. Toutes les sondes sont étalonnées en comparaison avec une sonde de température à résistance de platine (PRT en anglais) dans un four thermométrique à puits secs. Procédure PC 7.2.61 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| -95 ºC à 140 ºC | 0,03 ºC | ||
| >140 ºC à 660 ºC | 0,09 ºC | ||
| Thermomètre de verre | |||
| -95 ºC à <0 ºC | 1,0 ºC | II | Pour l'étalonnage des thermomètres de verre. Tous les thermomètres sont étalonnés en comparaison avec une sonde de température à résistance de platine (PRT en anglais) dans un four thermométrique à puits secs. Procédure PC 7.2.60 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| 0 ºC à 140 ºC | 0,07 ºC | ||
| >140 ºC à 200 ºC | 0,12 ºC | ||
| Thermométrie de rayonnement | |||
| Thermomètres à mesure de rayonnement | |||
| 35 ºC à 400 ºC | 4,0 ºC | II | Pour l'étalonnage de thermomètres à mesure de rayonnement infrarouge de paramètre d'émissivité de 0.95 avec bande spectrale de 8 à 14 µm. Procédure PC 7.2.170 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Chambres de température contrôlée | |||
| -55 ºC à -40 ºC | 4 ºC | II | Pour l'étalonnage des chambres de température contrôlée. Toutes les chambres sont étalonnées par caractérisation en température du volume utilisé. Procédure PC 7.2.30 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| >-40 ºC à 140 ºC | 0,6 ºC | ||
| >140 ºC à 600 ºC | 4 ºC | ||
| Chambres de température et pression contrôlée (« Étuve sous vide ») | |||
| 0 ºC à 140 ºC | 0,6 ºC | II | Pour l'étalonnage des chambres de température contrôlée (« Étuve sous vide »). Toutes les chambres sont étalonnées par caractérisation en température du volume utilisé. Procédure PC 7.2.30-1 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| -14,5 psi | 1 psi | Pour l'étalonnage des chambres de pression contrôlée (« Étuve sous vide »). Toutes les chambres sont étalonnées par caractérisation de mesure de pression. Procédure PC 7.2.30-1 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
|
| Bain thermal | |||
| -100 ºC à 660 ºC | 0,2 ºC | II | Pour l'étalonnage des bains thermal. Tous les bains sont étalonnés en comparaison avec une sonde de température à résistance de platine (PRT en anglais). Procédure PC 7.2.63 de Mesurepro. |
Humidité
| Grandeur mesurée et son étendue ou instrument | Rendement métrologique d'étalonnage exprimé en terme d'incertitude (±) (Voir les notes supplémentaires) | Service de type | Remarques |
|---|---|---|---|
| Humidité Relative | |||
| 15 °C à 60 °C 20 % à 90 % RH | 5,0 % RH | II | Source. Pour l'étalonnage d'appareils de mesure d'humidité et température. Procédure PC 7.2.110 de Mesurepro. |
Électrique
| Grandeur mesurée et son étendue ou instrument | Rendement métrologique d'étalonnage exprimé en incertitude (±) (Voir les notes supplémentaires) | Type de service | Remarques |
|---|---|---|---|
| Tension, c.c. | |||
| 0,0000 mV à 10,0000 mV | 0,050 % + 7 μV | II | Source. Pour l'étalonnage d'appareils de mesure de la tension c.c. Étalonnages sur site disponibles. |
| 10,000 mV à 100,000 mV | 0,010 % + 7 μV | ||
| 0,10000 V à 1,00000 V | 0,006 % + 10 μV | ||
| 1,0000 V à 10,0000 V | 0,006 % + 50 μV | ||
| 10,000 V à 100,000 V | 0,006 % + 1000 μV | ||
| 100,00 V à 1000,00 V | 0,010 % + 20000 μV | ||
| Courant, c.c. | |||
| 0,000 μA à 200,00 μA | 0,050 % + 0,02 μA | II | Source. Pour l'étalonnage d'appareils de mesure du courant c.c. Étalonnages sur site disponibles. |
| 0,20000 mA à 2,00000 mA | 0,025 % + 0,1 μA | ||
| 2,0000 mA à 20,0000 mA | 0,015 % + 0,6 μA | ||
| 20,000 mA à 200,000 mA | 0,015 % + 6 μA | ||
| 0,2000 A à 2,0000 A | 0,015 % + 100 μA | ||
| 2,000 A à 20,0000 A | 0,1 % + 2 mA | ||
| Résistance | |||
| 10 Ω | 0,05 % + 50 mΩ | II | Source. Pour l'étalonnage d'appareils de mesure de résistance. Étalonnages sur site disponibles. |
| 100 Ω | 0,05 % | ||
| 1 kΩ | 0,02 % | ||
| 10 kΩ | 0,02 % | ||
| 100 kΩ | 0,02 % | ||
| 1 MΩ | 0,05 % | ||
| 10 MΩ | 0,05 % | ||
| 100 MΩ | 0,5 % | ||
| Grandeur mesurée et son étendue ou instrument | Fréquence | Rendement métrologique d'étalonnage exprimé en incertitude (±) (Voir les notes supplémentaires) | Type de service | Remarques |
|---|---|---|---|---|
| Tension, c.a. | ||||
| 1,0000 mV à 10,0000 mV | 20.000 Hz à 400.000 Hz | 0,20 % + 0,025 mV | II | Source. Pour l'étalonnage d'appareils de mesure de tension à onde sinusoïdale. Note : Étendue en tension de 100 V et 1000 V de 40 Hz à 1 kHz. Étalonnages sur site disponibles. |
| 400.000 Hz à 10.00 kHz | 0,2 % + 0,03 mV | |||
| 10,000 mV à 100,000 mV | 20.000 Hz à 400.000 Hz | 0,10 % + 0,05 mV | ||
| 400.000 Hz à 10.00 kHz | 0,15 % + 0,07 mV | |||
| 0,10000 V à 1,00000 V | 20.000 Hz à 400.000 Hz | 0,05 % + 0,05 mV | ||
| 400.000 Hz à 10.00 kHz | 0,07 % + 0,1 mV | |||
| 1,0000 V à 10,0000 V | 20.000 Hz à 400.000 Hz | 0,05 % + 0,5 mV | ||
| 400.000 Hz à 10.00 kHz | 0,07 % + 3 mV | |||
| 10,000 V à 100,000 V | 20.000 Hz à 400.000 Hz | 0,05 % + 10 mV | ||
| 400.000 Hz à 10.00 kHz | 0,07 % + 30 mV | |||
| 100,00 V à 1000,00 V | 20.000 Hz à 400.000 Hz | 0,07 % + 0,2 V | ||
| 400.000 Hz à 10.00 kHz | 0,10 % + 0,3 V | |||
| Courant, c.a. | ||||
| 1,000 μA à 200,000 μA | 20,000 Hz à 200,000 Hz | 0,25 % + 0,02 μA | II | Source. Pour l'étalonnage d'appareils de mesure de courant à onde sinusoïdale. Étalonnages sur site disponibles. |
| 200,000 Hz à 1000,00 Hz | 0,20 % + 0,2 μA | |||
| 0,20000 mA à 2,00000 mA | 20,000 Hz à 200,000 Hz | 0,10 % + 0,2 μA | ||
| 200,000 Hz à 1000,00 Hz | 0,10 % + 0,4 μA | |||
| 2,0000 mA à 20,0000 mA | 20,000 Hz à 200,000 Hz | 0,07 % + 1 μA | ||
| 200,000 Hz à 1000,00 Hz | 0,10 % + 4 μA | |||
| 20,000 mA à 200,000 mA | 20,000 Hz à 200,000 Hz | 0,07 % + 10 μA | ||
| 200,000 Hz à 1000,00 Hz | 0,10 % + 40 μA | |||
| 0,2000 A à 2,0000 A | 20,000 Hz à 200,000 Hz | 0,10 % + 0,1 mA | ||
| 200,000 Hz à 1000,00 Hz | 0,15 % + 1 mA | |||
| 2,0000 A à 20,000 A | 20,000 Hz à 200,000 Hz | 0,20 % + 3 mA | ||
| 200,000 Hz à 1000,00 Hz | 0,25 % + 10 mA | |||
| Étalonnage de pince ampèremétrique | ||||
| Sortie effective du courant c.a. (ampère – tour) | ||||
| 1 A à 1000 A | 20,000 Hz à 100,000 Hz | 0,42 % + 4,2 mA | II | Source utilisant un calibrateur multifonctions et un bobine de 50 tours. Pour l'étalonnage des pinces ampèremétriques. Étalonnages sur site disponibles. |
| Grandeur mesurée et son étendue ou instrument | Rendement métrologique d'étalonnage exprimé en terme d'incertitude (±) (Voir les notes supplémentaires) |
Service de type | Remarques |
|---|---|---|---|
| Étalonnage de pince ampèremétrique | |||
| Sortie effective du courant c.c. (ampère – tour) | |||
| 1 A à 1000 A | 0,37 % + 3,3 mA | II | Source utilisant un calibrateur multifonctions et un bobine de 50 tours. Pour l'étalonnage des pinces ampèremétriques. Étalonnages sur site disponibles. |
| Grandeur mesurée et son étendue ou instrument | Rendement métrologique d'étalonnage exprimé en terme d'incertitude (±) (Voir les notes supplémentaires) | Service de type | Remarques |
|---|---|---|---|
| Étalonnage électrique d'indicateurs et de simulateurs de température | |||
| Simulation de thermocouple | |||
| Type C | |||
| 0 ºC à 2316 ºC | 1,6 ºC | II | Source pour les types C. Pour l'étalonnage d'indicateurs de température et d'étalonneurs de procédés par simulation électrique de la température. Procédure PC 7.2.70 de Mesurepro. L'étalonnage sur site est disponible. |
| Type J | |||
| -210 ºC à 1200 ºC | 0,5 ºC | II | Source pour les types J. Pour l'étalonnage d'indicateurs de température et d'étalonneurs de procédés par simulation électrique de la température. Procédure PC 7.2.70 de Mesurepro. L'étalonnage sur site est disponible. |
| Type K | |||
| -210 ºC à 1200 ºC | 0,6 ºC | II | Source pour les types K. Pour l'étalonnage d'indicateurs de température et d'étalonneurs de procédés par simulation électrique de la température. Procédure PC 7.2.70 de Mesurepro. L'étalonnage sur site est disponible. |
| Type N | |||
| -200 ºC à 1300 ºC | 0,8 ºC | II | Source pour les types N. Pour l'étalonnage d'indicateurs de température et d'étalonneurs de procédés par simulation électrique de la température. Procédure PC 7.2.70 de Mesurepro. L'étalonnage sur site est disponible. |
Temps et fréquence
| Grandeur mesurée et son étendue ou instrument | Rendement métrologique d'étalonnage exprimé en terme d'incertitude (±) (Voir les notes supplémentaires) | Service de type | Remarques |
|---|---|---|---|
| Fréquence | |||
| 0,1000 Hz à 2,00000 MHz | 0,005 % | II | Source. Pour l'étalonnage d'appareils de mesure de fréquences L'étalonnage sur les lieux est disponible. |
Pression
| Grandeur mesurée et son étendue ou instrument | Rendement métrologique d'étalonnage exprimé en terme d'incertitude (±) (Voir les notes supplémentaires) | Service de type | Remarques |
|---|---|---|---|
| Pneumatique | |||
| -12 psi à 0 psi | 0,1 % FS | II | Indicateurs de vide. Procédure PC 7.2.50 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| 0 psi à 300 psi | 0,1 % FS | Manométrique. Procédure PC 7.2.50 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. | |
| Hydraulique | |||
| 300 psi à 10000 psi | 0,1 % FS | II | Manométrique. Procédure PC 7.2.50 de Mesurepro. |
Force
| Grandeur mesurée et son étendue ou instrument | Rendement métrologique d'étalonnage exprimé en terme d'incertitude (±) (Voir les notes supplémentaires) | Service de type | Remarques |
|---|---|---|---|
| Torque | |||
| Sens des aiguilles d'une montre et sens inverse des aiguilles d'une montre | |||
| 0,73 ft•lb à 750 ft•lb | 1 % de l'indication | II | Pour l'étalonnage des clefs et tournevis dynamométriques. Procédure PC 7.2.140 de Mesurepro. |
Masse
| Grandeur mesurée et son étendue ou instrument | Rendement métrologique d'étalonnage exprimé en terme d'incertitude (±) (Voir les notes supplémentaires) | Service de type | Remarques |
|---|---|---|---|
| Balances (Électronique, non automatique) | |||
| 80 g | 0,13 mg | II | Pour l'étalonnage des balances électroniques et non automatiques. La capacité d'étalonnage est basée sur l'utilisation Classe E2 de OIML R111 Étalonnages sur site disponibles. |
| 220 g | 0,22 mg | ||
| 1 kg | 6 mg | ||
| 6 kg | 27 mg | ||
| 10 kg | 174 mg | ||
| 30 kg | 1459 mg | ||
Dimensionnel
| Grandeur mesurée et son étendue ou instrument | Rendement métrologique d'étalonnage exprimé en terme d'incertitude (±) (Voir les notes supplémentaires) | Service de type | Remarques |
|---|---|---|---|
| Comparateurs, Analogue: | |||
| Pouce, graduation de 0,00005 po | 39 µpouce | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Pouce, graduation de 0,0001 po | 63 µpouce | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Pouce, graduation de 0,0005 po | 290 µpouce | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Pouce, graduation de 0,001 po | 578 µpouce | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Métrique, graduation de 0,001 mm | 0,8 µm | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Métrique, graduation de 0,002 mm | 1,3 µm | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Métrique, graduation de 0,01 mm | 5,8 µm | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Comparateurs, Digital: | |||
| Pouce, résolution de 0,00005 po | 39 µpouce | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20-5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Pouce, résolution de 0,0001 po | 63 µpouce | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20-5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Pouce, résolution de 0,0005 po | 290 µpouce | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20-5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Pouce, résolution de 0,001 po | 578 µpouce | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20-5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Métrique, résolution de 0,001 mm | 0,8 µm | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20-5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Métrique, résolution de 0,002 mm | 1,3 µm | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20-5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Métrique, résolution de 0,01 mm | 5,8 µm | II | Pour l'étalonnage des comparateurs à cadran. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20-5 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Jauges d'alésage | |||
| Pouce, jusqu'à 8 pouces | 109 µpouce | II | Pour l'étalonnage des jauges d'alésage. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑3 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Métrique, jusqu'à 300 mm | 3,5 µm | II | Pour l'étalonnage des jauges d'alésage. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑3 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Pieds à coulisse: extérieur | |||
| Pouce, jusqu'à 12 pouces | 324 µpouce | II | Pour l'étalonnage des pieds à coulisse. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑1 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| >12 pouces à 24 pouces | 405 µpouce | ||
| Métrique, jusqu'à 300 mm | 7 µm | II | Pour l'étalonnage des pieds à coulisse. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑1 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| >300 mm à 600 mm | 9 µm | ||
| Micromètres: extérieur | |||
| Pouce, jusqu'à 8 pouces | 97 µpouce | II | Pour l'étalonnage des micromètres d'extérieur. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑2 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Métrique, jusqu'à 300 mm | 3,5 µm | II | Pour l'étalonnage des micromètres d'extérieur. Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑2 de Mesurepro. Étalonnages sur les lieux disponibles. |
| Calibres de hauteur ("height gauge" en anglais) | |||
| Pouce, jusqu'à 24 pouces | 530 µpouce | II | Pour l'étalonnage des « height gauge ». Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑4 de Mesurepro. |
| Métrique, jusqu'à 600 mm | 13 µm | II | Pour l'étalonnage des « height gauge ». Procédure d'étalonnage PC 7.2.20‑4 de Mesurepro. |